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Ac Dc 표면 및 표면 균열 근처 자성 입자 테스트 장비

1개
MOQ
Ac Dc 표면 및 표면 균열 근처 자성 입자 테스트 장비
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풍모
제품 사양
전원 공급 장치:: AC 220V ± 10% 50HZ 5A
산출:: AC 38V 10A
검사 속도:: ≥6m/분
무게: 약: 6.5Kg(본체)
상품명: 휴대용 자기 입자 테스트 결함 감지기
애플리케이션: 주로 강자성 공작물의 표면 및 표면 근처의 균열을 감지하는 데 사용됩니다.
드는 힘:: AC≥5Kg DC≥18Kg(조인트 없음)
극 거리:: 50-200mm(조절 가능)
현재: AC 및 DC 전환 가능
컨트롤러 크기: 95x45x75mm(길이*가로*높이)
휴대용 케이스 크기: 170x140x70mm(길이*가로*높이)
하이 라이트:

ac dc 자분 시험 장비

,

huatec 자분 시험 장비

,

ac dc ndt 자분 시험

기본 정보
원래 장소: 베이징
브랜드 이름: HUATEC
인증: ISO, CE, GOST
모델 번호: HCDX-ISC
결제 및 배송 조건
포장 세부 사항: 표준 수출 패키지
배달 시간: 1-4일
지불 조건: T/T, 페이팔, 웨스턴 유니온
공급 능력: 달 당 500pcs
제품 설명

AC와 DC 표면 및 가까운 표면 균열 휴대용 다기능 자석 입자 시험 장비

 

소개:

HCDX-ISC 복합 자성 분말 탐상 장치는 저소음, 강한 자력, 긴 수명 및 간단한 작동으로 현장 및 실험실 사용에 적합한 실리콘 제어 비접촉식 스위치를 채택합니다.장비는 결합 구성을 채택하고 사용자는 필요에 따라 프로브를 자유롭게 선택할 수 있습니다.Type A, D, E, O 프로브는 사용자 요구 사항에 따라 구성할 수 있습니다.

 

HCDX-ISC 직렬 휴대용 다기능 자분탐지기용 AC 및 DC 전환 가능.

 

HCDX-ISC 직렬 휴대용 다기능 자분 탐상은 컨트롤러로 8비트 MCU를 채택하고(위상 제어 회로 포함), 또한 MCU 프로그램은 평생 무료 업그레이드를 즐길 수 있으며 유형 A, D, E, O 프로브는 사용자 요구 사항에 따라 구성됩니다.

 

애플리케이션:

주로 강자성 금속 부품의 표면 및 표면 균열 근처를 감지하는 데 사용됩니다.

보일러 압력용기, 철구조물, 단조품, 주물, 용접부품, 가공부품 등

 

Ac Dc 표면 및 표면 균열 근처 자성 입자 테스트 장비 0

 

모델 HCDX-ISC에 대한 표준 프로브 소개:

 

유형 D 프로브(전자기 요크 프로브): 가동 조인트가 장착되어 있으며 표면 공작물을 자화하고 감지할 수 있습니다.

유형 A 프로브(말굽 프로브): 모든 종류의 필렛 용접, 로컬 자화 검사의 내부 및 외부 모서리 대형 공작물에 적합하며 작업등이 장착되어 있습니다.

 

기술적인 매개변수:

전원 공급 장치: AC 220V ± 10% 50HZ 5A

출력: AC 38V 10A

유형 ADEO 프로브는 선택 사항이며 사용 가능합니다.

검사 속도: ≥6m/min

프로브의 온도 상승: ≤60℃

작동 비트: 연속 작동의 장기간 동안 작동하는 것이 좋습니다: 자화 시간 ≤3초, 간격 시간 ≥5초

무게: 약 6.5Kg(본체)

 

모든 선택적 프로브 매개변수:

D형 프로브

드는 힘: AC≥5Kg DC≥18Kg (관절 없음)

극 거리: 50-200mm(조정 가능)

작동 전류: ≥8A

작동 전압: AC=38V, DC=9V

무게: 2.5kg

A타입 프로브

드는 힘: AC≥ 4.5kg DC≥18Kg

극 거리: 20-160mm(조정 가능)

작동 전압: AC=38V, DC=9V

무게: 2.0kg

O타입 프로브

중심 자기 강도: 180Oe

작동 전압: AC=38V

내경: 150mm

무게: 2.5kg

E형 프로브

드는 힘: ≥12Kg

거리: 110mm

작동 전류: ≥7A

검사 속도: 6m/min

작동 전압: 38v 왼쪽, 2

무게: 3.0kg

 

표준 배달:

 

호스트 HCDX-ISC 1

유형 D 요크 프로브 1

A형 프로브 1

전력선 1

프로브 라인 1

표준시편 1

사용 설명서 1

인증서 1

 

옵션 액세서리:

유형 A 프로브

오 프로브

전자 프로브

D 프로브

사중

시험편

자외선

 

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