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홈 /제품 소개/엑스레이 파이프라인 크롤러/75 미크론 아모르프 실리콘 A Si 다양한 분야 A Si DR 비 파괴적 테스트

75 미크론 아모르프 실리콘 A Si 다양한 분야 A Si DR 비 파괴적 테스트

1
MOQ
75 미크론 아모르프 실리콘 A Si 다양한 분야 A Si DR 비 파괴적 테스트
풍모 갤러리 제품 설명 따옴표를 요구하십시오
풍모
제품 사양
소재: 비정질 실리콘 센서
온도: 10-35°C(작동); -10~50°C(보관)
습도: 30-70% RH(비응축)
제품 이름: DR 디지털 평면 패널 감지기
수용체 유형: a-SI
신틸레이터: CSI:TI
활동 영역: 230.4x172mm
픽셀 피치: 75μm
결의: 3072x2304
강조하다:

75 미크론 A-Si DR

,

아모르프 실리콘 A-Si DR

,

다양한 분야 A-Si DR
기본 정보
원래 장소: 중국
브랜드 이름: HUATEC
인증: CE ISO GOST
모델 번호: H2317HSC-CG
결제 및 배송 조건
포장 세부 사항: 표준 상자 패키지 내보내기
제품 설명

75 미크론 아모르프 실리콘 A-Si 다양한 분야 A-Si DR 및 비파괴 테스트

 

H2317HSC-CG 비형 실리콘 센서를 기반으로 한 가벼운 평면 판 탐지 장치로 X선 탐지에 적합합니다.

 

센서
수용체 유형 a-Si

스킨틸레이터 CsI:TI

액티브 영역 230.4 x 172 mm

결의안 3072x 2304

픽셀 피치 75μm

 

전원 공급 & 배터리

어댑터 AC 100-240V,50-60Hz

어댑터 DC 24V2.7A

전력 분산 <20W

 

이미지 품질
제한 해상도 5.9 LP/mm

에너지 범위 40~150KV

동적 범위 ≥76 dB

감수성 ≥0.54 LSB/nGy

Ghos <1% 1차 프레임

 

태그:

파이프라인 크롤러

감마 레이 크롤러

X 선 크롤러

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